主要规格及技术指标 : 1.箱体温度控制为-25℃±2℃;
2.样本头温度为+10℃至-43℃±2℃;
3.半导体制冷功能,样品点位最低为-57±3℃;
4.刀架制冷,温度恒定在-27℃±2℃;
5.样本台速冻点数量18个样本头卡位。半导体速冻卡位一个。共计19个;
6.样品头行程:垂直方向64毫米(2.5in),样本头会只负责上下垂直运动,不做前进后退进样;
7.刀架行程:水平方向48毫米(1.9in);
8.样品最大尺寸70×55mm, 样品头XY8°Z360°精确定位;
9.切片厚度范围:0.5-100微米,修片厚度范围:5-500微米